Servicebereich Analytik - Elektronen-Mikroskopie
TRANSMISSIONSELEKTRONENMIKROSKOP
- JEM-ARM200F ( JEOL)
- 200kV, FEG, CESCOR, EDX
- STEM Auflösung
- HAADF 200kV 0.082nm FFT-Spot
- BF 200kV 0.136nm FFT-Spot
- TEM Auflösung
- Punkt 200kV 0.190nm FFT-Ring
- Gitter 200kV 0.100nm FFT-Spot
ULTRAMIKROTOM
- MT7000 (RMC)
- Ausgestattet mit einem Tieftemperaturzusatz (CR 21)
SPUTTER- UND BEDAMPFUNGSANLAGEN
- SCD 005 und MED 020 (Bal-Tec)
